
                        
詳細介紹
QuaNix4200P分體式涂層測厚儀
QuaNix4200P涂層測厚儀(分體式)更方便用戶在臺階、狹小、拐角及凹槽等復雜區(qū)域測量,QuaNix4200P涂層測厚儀(分體式)零位穩(wěn)定,無需校準,溫度補償,紅寶石探頭,*的直流采樣技術。
|              QuaNix4200P              |         |
|              測量范圍              |                          QNIX4200P(分體型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um              |         
|              QNIX4200P5(分體型):Fe:0-5000um;NFe:0-5000um              |         |
|              顯示精度              |                          0.1um              |         
|              精度              |                          0-50um:≤±1um              |         
|              50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)              |         |
|              1000-3000um≤±3%讀數(shù)              |         |
|              zui小接觸面              |                          10×10mm/QNix4500              |         
|              zui小曲率半徑              |                          凸面:3mm;凹面:25mm              |         
|              zui小基體厚度              |                          Fe:0.2mm/NFe:0.05mm              |         
|              溫度補償范圍              |                          0-60℃              |         
|              顯示              |                          LCD液晶(帶背光)              |         
|              探頭              |                          紅寶石固定式              |         
|              電源              |                          2×1.5V干電池              |         
|              尺寸              |                          100×60×27mm              |         
|              重量              |                          110g              |         
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